技術參數
型號規格 |
JQ-B240 |
測試系統 |
測試模組/成像模組 / 暗室模組 |
檢測時間 (S) |
1~5S |
檢測對象 |
晶體硅組件;單晶/多晶 |
檢測方式 |
白天暗室檢測/夜晚支架上組件直接檢測 |
可判斷缺陷類型 |
隱裂/斷柵/黑心/黑邊/低效率片/燒結網紋/碎片/邊緣過刻/材料缺陷 |
成像系統 |
分辨率:2400W, |
自動對焦 |
|
內置無線傳輸模組/外接遠程無線wifi |
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暗室系統 |
暗室帳篷 |
面積(mm):2200*2200*1300(可定制) |
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上電電源(可選) |
直流穩壓電源 60V10A(標配) 便攜式發電機(可選) 多組件供電電源(可選) |
上電模式 |
手動連接組件上電 |
產品配置單
序號 |
系統名稱 |
規格 |
數量 |
單位 |
1 |
成像系統 |
紅外相機 |
1 |
套 |
2 |
平板電腦 |
1 |
套 |
|
3 |
無線wifi |
1 |
套 |
|
4 |
暗室系統 |
暗室帳篷 |
1 |
套 |
5 |
組件放置架 |
1 |
套 |
|
6 |
暗室支架 |
1 |
件 |
|
7 |
相機支架 |
1 |
件 |
|
8 |
電源 |
直流穩壓電源 |
1 |
臺 |
9 |
外接線 |
外接延長線 |
1 |
根 |
10 |
其他 |
拉桿箱 |
1 |
件 |
11 |
其他 |
手提包 |
1 |
件 |